리퍼비시 계측기
리퍼비시 계측기
LCR 테스터 3522-50은 외부 I/O 인터페이스를 이용하여 사전에 등록된 측정 조건을 입력하여 측정 조건별 샘플 선택/평가를 수행한다.측정 조건을 변경하여 적절한 측정 조건 및 비교 조건을 등록하고 동일한 샘플에 대해 연속 측정을 수행할 수 있습니다.측정기 한 대로 다품종 자동화 생산라인에 구축해 가장 빠른 5ms의 고속 측정이 가능합니다.
LCR 테스터 HIOKI 3522-50 테스트|Z|, L, C, R
DC, 1mHz~100kHz 더 넓은 범위의 측정 주파수
5ms 고속측정 LCR계
광대역 범위(DC 또는 1mHz~100kHz)
14가지 매개변수 측정(고해상도 및 고정밀도)
DC 저항 측정
LCR테스터기3522-50기본 정확도는 ±0.08%, 1mHz~100kHz의 테스트 주파수는 5ms의 고속 측정, 14가지 매개변수를 측정하여 구성 요소의 작업 조건에 더 가까운 테스트 조건을 제공할 수 있습니다.
Measurement parameters: |Z|, |Y|, θ, Rp (DCR), Rs (ESR, DCR), G, X, B, Cp, Cs, Lp, Ls, D (tan δ), Q
Measurement ranges |Z|, R, X: 10.00 mΩ to 200.00 MΩ (depending on measurement frequency and signal levels)
θ: -180.00° to +180.00°
C: 0.3200 pF to 1.0000 F
L: 16.000 nH to 750.00 kH
D: 0.00001 to 9.99999
Q: 0.01 to 999.99
|Y|, G, B: 5.0000 nS to 99.999 S
Basic accuracy: Z : ± 0.08% rdg. θ : ± 0.05˚
Measurement frequency: DC, 1 mHz to 100 kHz
Measurement signal levels: 10 mV to 5 V rms / 10µA to 100 mA rms
Output impedance: 50 Ω
Display screen: LCD with backlight / 99999 (full 5 digits)
Measurement time (typical values for displaying |Z|): FAST : 5 ms, NORMAL : 16 ms, SLOW 1 / 2 : 88 ms / 828 ms
Settings in memory: Maximum 30 sets
Comparator functions: HI/IN/LO settings for two measurement parameters; percentage, ∆%, or absolute value settings
DC bias: External DC bias ± 40 V max.(option) (3522-50 used alone ± 10 V max./ using 9268 ± 40 V max.)
