전기, 전자기기내에 내장되는 Digital IC Device(반도체)의 오동작 및 파괴의 원인중, 인체에 대전된 정전기 방전에 의한 문제가 가장 크다 하겠다. 정전기에 의한 피해는 낮은 습도, 인공섬유의 융단, Vinyl 바닥 등의 조건 하에서는 더욱 많은 문제를 일으키며, 이러한 트러블을 방지하기 위해서는 반도체 자체의 충분한 정전기 대책이 요구되어 진다.
동 시험기는 대전된 인체에 의해 야기되는 정전기 방전을 6KV까지 Condensor 방식으로 Simulation함으로써, 이것에 대한 Digital IC Device(반도체)의 내성이나 감수성을 시험하는 것을 목적으로 설계되어진 시험기이다.
최근에는 반도체뿐만 아니라 새로이 개발되는 다양한 Digital방식의 Device에 대해서도 동 장비로 시험을 요구받고 있다.

특징
1. MIL-STD-883D, EIAJ ED-4701 규격에 준거 : 반도체용정전기시험기로서 MIL-STD-883D, EIAJ ED-4701 규격에 준거하고 있다.
2. 최대 6kV의 출력전압으로 여유있는 시험이 가능 : 최대 6kV 출력전압으로 공시체의 정전내량, 파손, 한계치등의 여유있는 시험이 가능하다.
3. 최대 128PIN까지 시험 가능 : OPTION사항으로 최대 128PIN까지 시험이 가능하다